АВТОМАТИЗАЦИЯ ТЕСТИРОВАНИЯ АЛГОРИТМА ВЫДЕЛЕНИЯ РАДИОЛОКАЦИОННЫХ МАРКЕРОВ НА РАДИОЛОКАЦИОННЫХ ИЗОБРАЖЕНИЯХ, ПОЛУЧЕННЫХ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ РАДИОЛОКАЦИОННОЙ СТАНЦИИ W-ДИАПАЗОНА
Аннотация
Об авторе
В. Л. ЗдехРоссия
инженер
197375, Санкт‑Петербург, ул. Новосельковская, д. 37, лит. А, тел.: 8 (921) 779‑64‑66
Список литературы
1. Беляев М. Е., Здех В. Л. Автоматическое тестирование алгоритма формирования траектории движения луча антенны при моделировании поисково-спасательных работ с использованием РЛС W-диапазона // Радиопромышленность. 2017. № 2. С. 13–17.
2. Ганов С. В., Климентьев В. А., Сириченко А. В. Алгоритм выделения радиолокационных маркеров в задачах обеспечения безопасной посадки вертолета // Вопросы радиоэлектроники. 2014. Вып. 4. С. 30–37.
3. Ганов С. В., Климентьев В. А., Сириченко А. В. Алгоритм выделения структуры радиолокационных маркеров по взаимным расстояниям // Вопросы радиоэлектроники. 2015. № 9. С. 35–40.
4. Левадный Ю. В., Телеш В. А. Способ моделирования радиолокационных изображений наземных объектов наблюдения // Наукоемкие технологии в космических исследованиях Земли. 2015. Т. 7. № 6. С. 22–27.
5. Андреев В. Г., Юкин С. А. Формирование радиолокационного изображения подстилающей поверхности по цифровой топографической карте // Вестник РГРТУ. 2007. Вып. 21. С. 25–31.
6. Жердев Д. А., Минаев Е. Ю., Фурсов В. А. Моделирование радиолокационных изображений с использованием программно-моделирующего конструктора радиолокационных карт // Сборник трудов III Международной конференции и молодежной школы «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ 2017). Самара: Новая техника, 2016. С. 586–590.
Для цитирования:
Здех В.Л. АВТОМАТИЗАЦИЯ ТЕСТИРОВАНИЯ АЛГОРИТМА ВЫДЕЛЕНИЯ РАДИОЛОКАЦИОННЫХ МАРКЕРОВ НА РАДИОЛОКАЦИОННЫХ ИЗОБРАЖЕНИЯХ, ПОЛУЧЕННЫХ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ РАДИОЛОКАЦИОННОЙ СТАНЦИИ W-ДИАПАЗОНА. Вопросы радиоэлектроники. 2018;(9):60-63. https://doi.org/10.21778/2218-5453-2018-9-60-63
For citation:
Zdekh V.L. THE AUTOMATIC TESTING OF RADAR MARKER SELECTION ALGORITHM USING W-BAND RADAR IMAGES. Issues of radio electronics. 2018;(9):60-63. (In Russ.) https://doi.org/10.21778/2218-5453-2018-9-60-63