Preview

Вопросы радиоэлектроники

Расширенный поиск

ОЦЕНКА ПОКАЗАТЕЛЕЙ НАДЕЖНОСТИ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ ИНОСТРАННОГО ПРОИЗВОДСТВА ПО РЕЗУЛЬТАТАМ ИСПЫТАНИЙ МАЛЫХ ВЫБОРОК

https://doi.org/10.21778/2218-5453-2018-7-59-64

Полный текст:

Аннотация

В рамках данной статьи рассматривается вопрос оценки надежности электронной компонентной базы (ЭКБ) иностранного производства (ИП), применяемой в составе радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) космических аппаратов (КА). Надежность РЭА КА напрямую зависит от надежности применяемой в ее составе ЭКБ. К настоящему моменту требования к гамма-процентной наработке ЭКБ комплектующей РЭА КА достигают 150 000 часов при стандартном значении у = 95%. Подтверждение подобных требований возможно только в случае испытания больших выборок в течение длительного времени, что влечет за собой внушительные экономические затраты. Это неизбежно приводит к необходимости использовать и развивать новые идеи и методы теории надежности. В данной статье для подтверждения требований, предъявляемых к ЭКБ в части надежности, предложено обобщать расчетную оценку и данные, полученные по результатам ускоренных испытаний на безотказность, на основании теоремы Байеса. В результате проведенного исследования были определены значения интенсивностей отказов (ИО) ЭКБ ИП, а также рассмотрена возможность повышения значения вероятности безотказной работы (ВБР) у до значения 99%, при сохранении требований, предъявляемых к гамма-процентной наработке до отказа ЭКБ ИП, комплектующей РЭА КА.

Об авторе

И. В. Архипова
Балтийский государственный технический университет «ВОЕНМЕХ» им. Д. Ф. Устинова
Россия

аспирант,  кафедра  Е6  автономных  информационных  и  управляющих  систем

190005, Санкт‑Петербург,  ул. 1‑я Красноармейская, д. 1, тел.: 8 (812) 316‑24‑77



Список литературы

1. Орлов В. И., Федосов В. В. О принципе комплектации бортовой аппаратуры КА равнонадежной ЭКБ // Петербургский журнал электроники. 2014. № 4. С. 57–60.

2. Батурин А. В. Стратегия оценки показателей надежности иностранной ЭКБ // Петербургский журнал электроники. 2011. № 3–4. С. 65–70.

3. Повышение качества и минимизация рисков систем оружия на основе информационно-системной и эвентологической методологии / А. С. Афанасьев, Ю. Л. Вященко, К. М. Иванов, В. В. Игнатенко, Р. В. Павлушкин // Вопросы оборонной техники. Серия 16 «Технические средства противодействия терроризму». 2016. С. 123–130.

4. Апробация методики оценки показателей надежности электронной компонентной базы для систем управления по результатам испытаний малых выборок ПЛИС фирмы Altera / И. В. Архипова, А. В. Батурин, Р. Г. Левин, А. И. Митюшов // Вопросы радиоэлектроники. 2017. № 7. С. 83–88.

5. Савчук В. П. Байесовские методы статистического оценивания. Надежность технических объектов. М.: Наука, 1989. 328 с.

6. MIL-HDBK-217F. Military Handbook. Reliability prediction of electronic equipment. Department of Defense, Washington DC, 1991, 150 p.


Для цитирования:


Архипова И.В. ОЦЕНКА ПОКАЗАТЕЛЕЙ НАДЕЖНОСТИ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ ИНОСТРАННОГО ПРОИЗВОДСТВА ПО РЕЗУЛЬТАТАМ ИСПЫТАНИЙ МАЛЫХ ВЫБОРОК. Вопросы радиоэлектроники. 2018;(7):59-64. https://doi.org/10.21778/2218-5453-2018-7-59-64

For citation:


Arkhipova I.V. THE ASSESSMENT OF THE RELIABILITY OF ELECTRONIC COMPONENTS OF FOREIGN PRODUCTION ON THE RESULTS OF TESTS OF SMALL SAMPLES. Issues of radio electronics. 2018;(7):59-64. (In Russ.) https://doi.org/10.21778/2218-5453-2018-7-59-64

Просмотров: 95


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2218-5453 (Print)
ISSN 2686-7680 (Online)