ОЦЕНКА ПОКАЗАТЕЛЕЙ НАДЕЖНОСТИ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ ИНОСТРАННОГО ПРОИЗВОДСТВА ПО РЕЗУЛЬТАТАМ ИСПЫТАНИЙ МАЛЫХ ВЫБОРОК

Аннотация

В рамках данной статьи рассматривается вопрос оценки надежности электронной компонентной базы (ЭКБ) иностранного производства (ИП), применяемой в составе радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) космических аппаратов (КА). Надежность РЭА КА напрямую зависит от надежности применяемой в ее составе ЭКБ. К настоящему моменту требования к гамма-процентной наработке ЭКБ комплектующей РЭА КА достигают 150 000 часов при стандартном значении у = 95%. Подтверждение подобных требований возможно только в случае испытания больших выборок в течение длительного времени, что влечет за собой внушительные экономические затраты. Это неизбежно приводит к необходимости использовать и развивать новые идеи и методы теории надежности. В данной статье для подтверждения требований, предъявляемых к ЭКБ в части надежности, предложено обобщать расчетную оценку и данные, полученные по результатам ускоренных испытаний на безотказность, на основании теоремы Байеса. В результате проведенного исследования были определены значения интенсивностей отказов (ИО) ЭКБ ИП, а также рассмотрена возможность повышения значения вероятности безотказной работы (ВБР) у до значения 99%, при сохранении требований, предъявляемых к гамма-процентной наработке до отказа ЭКБ ИП, комплектующей РЭА КА.