БЛОК КОЛЬЦЕВЫХ ГЕНЕРАТОРОВ ДЛЯ ВЕРИФИКАЦИИ НА КРИСТАЛЛЕ ЗАДЕРЖЕК СТАНДАРТНЫХ ЦИФРОВЫХ ЭЛЕМЕНТОВ
Аннотация
Об авторах
А. В. КобыляцкийРоссия
аспирант, инженер
115409, Москва, Каширское ш., д. 31, тел.: 8 (495) 788-56-99, доб. 8392
Д. К. Сергеев
Россия
инженер
115409, Москва, Каширское ш., д. 31, тел.: 8 (495) 788-56-99, доб. 8392
Список литературы
1. Dudek P., Szczepanski S., Hatfield J. V. A high-resolution CMOS time-to-digital converter utilizing a vernier delay line. IEEE transactions on solid-state circuits, 2000, vol. 35, no. 2, pp. 240–247.
2. Levine P. M., Roberts G. W. High-resolution flash time-to-digital conversion and calibration for system-on-chip testing. IEE proceedings computers and digital techniques, 2005, vol. 152, no. 3, pp. 415–426.
3. Abdel-Hafeez S., Harb S. M., Lee K. M. On-chip jitter measurement architecture using a delay-locked loop with vernier delay line, to the order of giga hertz. Proceedings of 18th international conference mixdes, 2011, pp. 502–506.
4. Frohmann S., Dietz E., Dittrich H., Hübers H. W. Picosecond imaging of signal propagation in integrated circuits. Advanced Optical Technologies, 2017, vol. 6, no. 2, pp. 137–142.
5. Das B. P., Onodera H. On-chip measurement of rise/fall gate delay using reconfigurable ring oscillator. IEEE transactions on circuits and systems, 2014, vol. 61, no. 3, pp. 183–187.
6. Das B. P., Onodera H. Area-efficient reconfigurable-array-based oscillator for standard cell characterization. IEEE transactions on circuits and systems-II: Express Briefs, 2014, vol. 61, no. 3, pp. 429–436.
Для цитирования:
Кобыляцкий А.В., Сергеев Д.К. БЛОК КОЛЬЦЕВЫХ ГЕНЕРАТОРОВ ДЛЯ ВЕРИФИКАЦИИ НА КРИСТАЛЛЕ ЗАДЕРЖЕК СТАНДАРТНЫХ ЦИФРОВЫХ ЭЛЕМЕНТОВ. Вопросы радиоэлектроники. 2018;(8):20-26. https://doi.org/10.21778/2218-5453-2018-8-20-26
For citation:
Kobylyatskiy A.V., Sergeev D.K. RING OSCILLATORS BLOCK FOR ON-CHIP VERIFICATION OF STANDARD CELL PROPAGATION DELAY. Issues of radio electronics. 2018;(8):20-26. (In Russ.) https://doi.org/10.21778/2218-5453-2018-8-20-26