ОПТИМИЗАЦИЯ ПАРАМЕТРОВ ВЫСОКОСКОРОСТНЫХ КАНАЛОВ ПРОЦЕССОРА С ЦЕЛЬЮ ПОВЫШЕНИЯ ОТКАЗОУСТОЙЧИВОСТИ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОГО КОМПЛЕКСА
Аннотация
Об авторах
И. Е. БилялетдиновРоссия
аспирант, МТУ (МИРЭА);
инженер-программист, ПАО «ИНЭУМ им И. С. Брука»
119334, Москва, ул. Вавилова, д. 24, тел.: 8 (495) 363-95-03
А. Е. Ометов
Россия
инженер-программист
119334, Москва, ул. Вавилова, д. 24, тел.: 8 (495) 363-95-03
Л. С. Тимин
Россия
начальник сектора, ПАО «ИНЭУМ им И. С. Брука», АО «МЦСТ»
119334, Москва, ул. Вавилова, д. 24, тел.: 8 (495) 363-95-03
Список литературы
1. Foster G. Anatomy of an Eye Diagram – a Primer. SyntheSys Research, Inc., 2004, 9 p.
2. Wang L.-T., Stroud C. E., Touba N. A. System-on-Chip Test Architectures: nanometer design for testability. Burlington, Morgan Kaufmann Publishers, 2008, 856 p.
3. Wang L.-T., Wu C.-W., Wen X. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. San Francisco, Morgan Kaufmann Publishers, 2006, 777 p.
4. IEEE Std 1149.1–2001: IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture. New York, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2001, 208 p.
Для цитирования:
Билялетдинов И.Е., Ометов А.Е., Тимин Л.С. ОПТИМИЗАЦИЯ ПАРАМЕТРОВ ВЫСОКОСКОРОСТНЫХ КАНАЛОВ ПРОЦЕССОРА С ЦЕЛЬЮ ПОВЫШЕНИЯ ОТКАЗОУСТОЙЧИВОСТИ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОГО КОМПЛЕКСА. Вопросы радиоэлектроники. 2018;(2):87-92.
For citation:
Bilyaletdinov I.E., Ometov A.E., Timin L.S. OPTIMIZATION OF PARAMETERS OF HIGH-SPEED CHANNELS OF THE PROCESSOR IN ORDER TO INCREASE THE FAULT TOLERANCE OF THE COMPUTER COMPLEX. Issues of radio electronics. 2018;(2):87-92. (In Russ.)