Preview

Вопросы радиоэлектроники

Расширенный поиск

ОПТИМИЗАЦИЯ ПАРАМЕТРОВ ВЫСОКОСКОРОСТНЫХ КАНАЛОВ ПРОЦЕССОРА С ЦЕЛЬЮ ПОВЫШЕНИЯ ОТКАЗОУСТОЙЧИВОСТИ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОГО КОМПЛЕКСА

Полный текст:

Аннотация

В современных вычислительных средствах семейства «Эльбрус» используются высокоскоростные каналы передачи данных - каналы памяти DDR3, каналы межпроцессорного взаимодействия и ввода-вывода, построенные на базе PCI Express. Их физические уровни имеют большое число настроек, таких как номинал терминирующего резистора, preemphasis и equalization, амплитуда выходного сигнала и т.д. Все они влияют на работоспособность канала и целостность сигналов. Для повышения отказоустойчивости вычислительного комплекса требуется найти наиболее оптимальный вариант настройки для физического уровня высокоскоростных каналов. Ввиду большого количества возможных настроек необходимо иметь возможность произвести оценку за наименьшее время и с минимальным количеством дополнительного оборудования. Авторы данной статьи разработали методику определения качества настроек, использующую внутренние механизмы физического уровня каналов.

Об авторах

И. Е. Билялетдинов
ПАО «ИНЭУМ им И.С. Брука»; МТУ (МИРЭА)
Россия

аспирант, МТУ (МИРЭА);

инженер-программист, ПАО «ИНЭУМ им И. С. Брука»

119334, Москва, ул. Вавилова, д. 24, тел.: 8 (495) 363-95-03



А. Е. Ометов
АО «МЦСТ»
Россия

инженер-программист

119334, Москва, ул. Вавилова, д. 24, тел.: 8 (495) 363-95-03



Л. С. Тимин
ПАО «ИНЭУМ им И.С. Брука»; АО «МЦСТ»
Россия

начальник сектора, ПАО «ИНЭУМ им И. С. Брука», АО «МЦСТ»

119334, Москва, ул. Вавилова, д. 24, тел.: 8 (495) 363-95-03



Список литературы

1. Foster G. Anatomy of an Eye Diagram – a Primer. SyntheSys Research, Inc., 2004, 9 p.

2. Wang L.-T., Stroud C. E., Touba N. A. System-on-Chip Test Architectures: nanometer design for testability. Burlington, Morgan Kaufmann Publishers, 2008, 856 p.

3. Wang L.-T., Wu C.-W., Wen X. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. San Francisco, Morgan Kaufmann Publishers, 2006, 777 p.

4. IEEE Std 1149.1–2001: IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture. New York, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2001, 208 p.


Для цитирования:


Билялетдинов И.Е., Ометов А.Е., Тимин Л.С. ОПТИМИЗАЦИЯ ПАРАМЕТРОВ ВЫСОКОСКОРОСТНЫХ КАНАЛОВ ПРОЦЕССОРА С ЦЕЛЬЮ ПОВЫШЕНИЯ ОТКАЗОУСТОЙЧИВОСТИ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОГО КОМПЛЕКСА. Вопросы радиоэлектроники. 2018;(2):87-92.

For citation:


Bilyaletdinov I.E., Ometov A.E., Timin L.S. OPTIMIZATION OF PARAMETERS OF HIGH-SPEED CHANNELS OF THE PROCESSOR IN ORDER TO INCREASE THE FAULT TOLERANCE OF THE COMPUTER COMPLEX. Issues of radio electronics. 2018;(2):87-92. (In Russ.)

Просмотров: 40


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2218-5453 (Print)
ISSN 2686-7680 (Online)