Preview

Вопросы радиоэлектроники

Расширенный поиск

АНАЛИЗ ПОМЕХ НА ЭЛЕМЕНТЫ ЭВМ ПО ЦЕПЯМ ПИТАНИЯ

Полный текст:

Аннотация

В статье анализируются внутренние и внешние кондуктивные помехи, воздействующие по цепям питания на элементы ЭВМ. Получены ориентировочные оценки высокочастотных и низкочастотных помех, выделенных в шесть видов.

Об авторах

В. А. Колосов
Научно-исследовательский институт вычислительных комплексов им. М. А. Карцева
Россия

д. т. н., профессор, зам. тех. директора, главный конструктор по направлению «Силовая электроника»

АО «НИИВК им. М. А. Карцева», 117437, Москва, ул. Профсоюзная, д. 108, тел.: 8 (495) 330-06-38



С. А. Сорокин
Научно-исследовательский институт вычислительных комплексов им. М. А. Карцева
Россия

к. т. н., главный конструктор

АО «НИИВК им. М. А. Карцева», 117437, Москва, ул. Профсоюзная, д. 108, тел.: 8 (495) 330-56-09



Список литературы

1. Колосов В. А. Электропитание стационарной РЭА. Теория и практика проектирования. М.: Радио и связь, 1992. С. 160.

2. Воробушков В. В., Рябцев Ю. С. Методы конструирования помехозащищенной системы питания для подложки современных микропроцессоров // Вопросы радиоэлектроники. 2010. № С. 81–92.

3. Сорокин С. А., Чудинов С. М. Оптимизация электрических и конструктивных параметров линий связи вычислительных комплексов // Вопросы радиоэлектроники. 2016. № 7. С. 20–23.

4. Гольдштейн Е. И., Майер А. К. Индуктивно-емкостные сглаживающие фильтры. Томск: Изд-во Томск. ун-та, 1982. С. 221.

5. Колосов В. А. Защитные устройства от перенапряжений в сетях электроснабжения информационных систем // Вопросы радиоэлектроники. 2015. № 7. С. 158–165.


Для цитирования:


Колосов В.А., Сорокин С.А. АНАЛИЗ ПОМЕХ НА ЭЛЕМЕНТЫ ЭВМ ПО ЦЕПЯМ ПИТАНИЯ. Вопросы радиоэлектроники. 2017;(2):102-112.

For citation:


Kolosov V., Sorokin S. SUPPLY CIRCUIT INTERFERENCES ON THE COMPUTER ELEMENTS. Issues of radio electronics. 2017;(2):102-112. (In Russ.)

Просмотров: 7


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2218-5453 (Print)