АНАЛИЗ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ В МОДЕЛЯХ УПРАВЛЕНИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИМИ ПРОЦЕССАМИ
Аннотация
Определены особенности технологии современного производства радиоэлектронных средств и требования к моделям управления технологическими процессами в соответствии с особенностями производства. Показана роль анализа чувствительности в разработке моделей управления. Рассмотрены традиционно применяемые показатели чувствительности и методы их оценки. Показана ограниченность их применения ввиду большой номенклатуры продукции, изменчивости технологии производства радиоэлектронных средств, нелинейности динамики технологических процессов и недостаточности статистических данных. Предложен алгоритм вычисления нечетких показателей чувствительности с использованием семейства распределений Джонсона, который позволяет учесть имеющуюся информацию и может оперативно корректироваться в процессе управления технологическими процессами при поступлении новых данных. Применение алгоритма эффективно в условиях неопределенности динамики технологических процессов, неконтролируемости возмущений и недостаточности статистических данных.
Об авторах
Л. П. Вершинина
Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения
Россия
Россия
Вершинина Лилия Павловна, д. т.н., профессор
190000, Санкт-Петербург, ул. Большая Морская, д.67, лит. А, тел.: 8 (921) 868‑21‑66
М. И. Вершинин
Санкт-Петербургский горный университет
Россия
Россия
Вершинин Михаил Иосифович, к. пед. н., доцент
199106, Санкт-Петербург, Россия, 21-я линия Васильевского острова, д.2, тел.: 8 (953) 379‑46‑95
Список литературы
1. Вершинина Л.П., Вершинин М.И. Адаптивное управление термическими операциями в условиях наукоемкого про изводства // Вопросы радиоэлектроники. 2017. № 5. С. 16–19.
2. Ивановский Р.И. Прикладные аспекты теории чувствительности // Научно-технические ведомости СПбГПУ. 2011. № 6. С. 102–110.
3. Глаголев М.В. Анализ чувствительности модели // Динамика окружающей среды и глобальные изменения климата. 2012. Т. 3. № 3. C. 31–53.
4. Соболь И.М. Об оценке чувствительности нелинейных математических моделей // Математическое моделирование. 1990. Т. 2. № 5. С. 112–118.
5. Соболь И.М. Глобальные показатели чувствительности для изучения нелинейных математических моделей // Мате матическое моделирование. 2005. Т. 7. № 9. С. 43–52.
6. Варжапетян А.Г., Вершинина Л.П. Обеспечение качества построения имитационных моделей электронных схем // Электронная техника. 1984. Вып. 4 (109). С. 13–17.
7. Богданов Ю.И. Анализ вариаций и построение контрольных карт в микроэлектронике // Микроэлектроника. 1995. Т. 24. № 26. С. 435–446.
8. Нечеткие множества и теория возможностей / под ред. Р.Р. Ягера. М.: Радио и связь, 1986. 407 с.
9. Джонсон Н.Л., Коц С., Балакришнан Н. Одномерные непрерывные распределения. Ч. 1. М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010. 703 с.
10. Хан Г., Шапиро С. Статистические модели в инженерных задачах. М.: Мир, 1969. 398 с.
Для цитирования:
Вершинина Л.П., Вершинин М.И. АНАЛИЗ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ В МОДЕЛЯХ УПРАВЛЕНИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИМИ ПРОЦЕССАМИ. Вопросы радиоэлектроники. 2019;1(7):117-121. https://doi.org/10.21778/2218-5453-2019-7-117-121
For citation:
Vershinina L.P., Vershinin M.I. SENSITIVITY ANALYSIS IN MODELS OF TECHNOLOGICAL PROCESSES CONTROL. Issues of radio electronics. 2019;1(7):117-121. (In Russ.) https://doi.org/10.21778/2218-5453-2019-7-117-121
Просмотров: 109
Послать статью по эл. почте 
